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從SCIEX OS軟件的主界面進入Explorer。
打開一個使用相同質譜方法采集的信號正常的歷史數據。 **show后選擇Sample Information,打開樣品數據信息。 從Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到樣品采集時質譜的真空狀態。 備注:質譜方法里CAD值設置的不一樣,可能導致儀器采集時真空存在差異,可以從Method Parameters欄查看CAD的設置值是否相同。