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SCIEX OS軟件如何查看樣品采集時的真空狀態
來源:SCIEX | 作者:SCIEX | 發布時間: 2026-03-09 | 13 次瀏覽 | 分享到:
通過比較正常與問題樣品的真空信息變化,可輔助判斷TOF分辨率下降是否由CAD GAS異常引起,或離子入口堵塞導致靈敏度降低。本文檔說明如何利用SCIEX OS軟件查看已采集數據時的真空狀態.

通過比較正常樣品與問題樣品真空信息的變化,可以幫忙我們判斷是否由于CAD GAS的異常導致了TOF分辨率的下降;或者是因為離子入口(Orifice)堵導致了靈敏度的下降。本文檔介紹了如何利用OS軟件,打開已采集完成的數據,查看之前采集時的真空狀態。

01 SCIEX

從SCIEX  OS軟件的主界面進入Explorer。


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02 SCIEX

打開一個使用相同質譜方法采集的信號正常的歷史數據。

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03 SCIEX

**show后選擇Sample Information,打開樣品數據信息。

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04 SCIEX

從Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到樣品采集時質譜的真空狀態。

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備注:質譜方法里CAD值設置的不一樣,可能導致儀器采集時真空存在差異,可以從Method Parameters欄查看CAD的設置值是否相同。

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